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一、高低溫低氣壓試驗箱用途:
本試驗箱適用於對產品(整機)、零部件、材料進行高溫、低溫,高度(不高於海拔30000米或45000米)以及高低溫循環試驗和溫度-高度綜合試驗,高、低溫試驗時本試驗箱可用於散熱試驗樣品和非散熱試驗樣品的試驗。對於散熱試驗樣品的試驗,其散熱功率不能超過試驗箱製冷量,因製冷量為動態值,其隨溫度點變化而有所變化。高低溫低氣壓試驗箱,國防工業,航天工業自動化零組件,汽車部件,電子、電器零組件,塑料、化工業,食品業,製藥工業及相關產品在高低溫低氣壓單項或同時作用下,模擬高海拔、高空、(高原地區)氣候進行貯存運用、運輸可靠性試驗,並可同時對試件通電進行電氣性能參數的測試。
	 
二、高低溫低氣壓試驗箱執行標準:
	GB/T 10592 -2008 高成年人看片技術條件
GB/T 10586 -2006 濕熱試驗箱技術條件
GB/T 2423.1-2008 電工電子產品環境試驗 第2部分:試驗方法 試驗A:低溫
GB/T 2423.2-2008 電工電子產品環境試驗 第2部分:試驗方法試驗B:高溫
GB/T 2423.3-2006 電工電子產品環境試驗 第2部分:試驗方法試驗Cab:恒定濕熱試驗
GB/T 2423.4-2008 電工電子產品環境試驗 第2部分:試驗方法試驗Db:交變濕熱(12h + 12h循環)
GB/T 2423.22-2008 電工電子產品環境試驗 第2部分:試驗方法試驗N:溫度變化
GB/T 5170.1-2008 電工電子產品環境試驗設備檢驗方法 總則
GJB 150.2A-2009 **裝備實驗室環境試驗方法 第2部分:低氣壓(高度)試驗
GJB 150.3A-2009 **裝備實驗室環境試驗方法 第3部分:高溫試驗
GJB 150.4A-2009 **裝備實驗室環境試驗方法 第4部分:低溫試驗
GJB 150.6-1986 **裝備實驗室環境試驗方法 溫度-高度試驗
GJB 150.19-1986 溫度-濕度-高度試驗
GJB 150.24A-2009**裝備實驗室環境試驗方法 第24部分:溫度-濕度-振動-高度試驗
GB/T 2423.27-2005電工電子產品環境試驗 第2部分 試驗方法 試驗Z/AMD 低溫/低氣壓/濕熱連續綜合試驗 
工作室尺寸:600*600*700
	溫度範圍	-70~+150℃ 
溫度波動度	±0.5℃(常壓空載) 
溫度均勻度	≤2℃(常壓空載) 
溫度偏差	±2℃(常壓空載) 
升溫時間(20~+150℃)	≤60min 
降溫時間(20~-60℃)   ≤80min
氣壓範圍	常壓~1KPa	常壓~0.5KPa 
壓力精度	±2KPa(常壓~40KPa時);±5%(40KPa~4KPa時);±0.1KPa(4KPa~1KPa時) 
降壓速率	≤45min(常壓→1KPa)
 
	
 
    